000
02.12.2009, 21:46 Uhr
Rainer
|
Hallo,
da ich viele defekte Platinen habe wo massig russisch TTL verbaut wurde viel mir wieder ein das mir vor einiger Zeit jemand bei Ebay einen IC-Tester von Fluke oder Tektronix weggegschnappt hatte. Der hatte laut Beschreibung die Eigenschaft mittels einer IC-Prüfklemme welche man wie eine Wäscheklammer auf den Schaltkreis von oben aufsetzt in der Schaltung prüfen zu können. Das Ding war ohne PC-Anschluß, mächtig alt und warscheinlich nicht sehr intelligent. Die Prüfung erfolgte mittels eines baugleichen IC's welcher im Tester in einem Sockel platziert wurde. Leider habe ich die Bezeichnung von dem Gerät vergessen, kennt das jemand? Nun kam mir gerade die Idee, es müsste doch möglich sein nach diesem Prinzip sowas nachzubauen, ich denke mir das die einfach über "Angstwiderstände" alle Pins parallelschalten und an jedem Pin einen Logiktester platzieren damit man die Zustände sieht. Ich besitze einen Semitest III von R&S welcher auch eine solche Prüfklemme hat. Mit diesem kann man wohl auch sowas ähnliches machen, jede logische Funktion lässt sich mittels Kodierstifte am Tester schalten. Aber vergleichen mittels Vergleichs-IC kann der wohl nicht. Wie verhalten sich TTL-IC's bei parallelschaltung? Hat da jemand Erfahrung damit? Eigentlich ist das ja unüblich, aber im Reparaturfalle gefallen mir solche Methoden wenn sie Zeit sparen. Zumindest offene Gatterausgänge und defekte Endstufen könnte man damit erschlagen, bei Kurzschlüssen im Chip sieht das sicher schlecht aus, aber vielleicht lässt sich mit dieser Methode ein großer Prozentsatz schon abdecken? Man müsste mehr über die Funktionsweise dieses Gerätes wissen... |
