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Thread - Seiten: -1-

000
07.09.2022, 18:28 Uhr
Klaus

Hallo,

... heute mal kein Thema zu Stühlen, Schränken u.s.w. ;-)

Da sich über die vielen Jahre doch einiges an ICs angesammelt hat und ich nicht immer deren Zustand kenne, habe ich mir die Platine vom Retro Chip Tester Pro gegönnt und bin dabei, das aus meiner Sicht coole Teil, aufzubauen.

https://8bit-museum.de/sonstiges/hardware-projekte/hardware-projekte-chip-tester/

Ein paar Bauteile fehlen noch, müssten aber demnächst eintrudeln.

Wenn ich das richtig im Hinterkopf habe, gibt es schon Erfahrungen hier im Forum.
Evtl. kann einer, der mit dem Teil arbeitet, diese mal kurz kundtun.

Es gibt ja inzwischen Nutzer des RCT auf der ganzen Welt und bisher hört sich alles sehr positiv an.
Speziell die Testergebnisse (sofern vorhanden) bei russischen, tschechischen oder auch DDR ICs würden mich interessieren.
Gibt es da u.U. Ausreißer, weil da evtl. doch nicht immer alles 1000%ig kompatibel zu den westlichen Teilen ist?

Danke und viele Grüße,
Klaus

Dieser Beitrag wurde am 07.09.2022 um 18:30 Uhr von Klaus editiert.

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001
07.09.2022, 18:56 Uhr
Deff

wpw hat das bereits im Oktober des Vorjahres thematisiert gehabt, was Dir wohl entgangen ist, Klaus!

=> https://www.robotrontechnik.de/html/forum/thwb/showtopic.php?threadid=19308

Ingo
--
Die Politik ist ein Versuch der Politiker, zusammen mit dem Volk mit den Problemen fertig zu werden, die das Volk ohne die Politiker niemals gehabt hätte. (Dieter Hildebrandt)

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002
07.09.2022, 19:09 Uhr
Klaus

Hallo,

oh je... der genannte Thread ist wohl doch an mir vorbei gegangen.
Habe aber auch ehrlich gesagt nicht explizit danach gesucht.

Ok ... im genannten Thread geht es vorwiegend um den Aufbau des Testers.
Mich interessieren aber auch die gemachten Erfahrungen speziell zu den Tests von ICs aus dem Ostblock, von denen noch einige im unbekannten Zustand hier herumlungern.
Theoretisch sollte ja der Großteil voll kompatibel zu den westlichen Teilen sein, aber man weiß ja nie ;-)

Danke und viele Grüße,
Klaus

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003
07.09.2022, 19:45 Uhr
PC-Opa

Hallo Klaus,

mein Retro Chip-Tester testet die westlichen als auch die östlichen BE zu meiner vollsten Zufriedenheit. Da macht er keine Unterschiede zu der Herkunft der BE. Überwiegend teste ich alte Speicherschaltkreise und TTL-Bausteine. Dazu eignet sich der Tester wirklich gut.
--
Gruß Wolfgang

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004
07.09.2022, 20:41 Uhr
Klaus

Ok, danke Wolfgang.

Ich freue mich dann schon, wenn ich das Teil aufgebaut habe und die alten ICs mal in Ruhe testen und u.U. ausmustern kann.
Das Teil ist eine prima Entwicklung und der Stephan, der das Teil erfunden hat, ein sehr netter Mensch.

Die Hardware an sich, ist ja überschaubar und durch die bedrahteten Bauelemente (bis auf den ATMega) auch für ältere Herren (wie mich), die inzwischen meist eine Lupe brauchen, leicht aufzubauen. Das echte KnowHow steckt in der Firmware.
Ich berichte dann mal kurz, wenn alles läuft.

Viele Grüße,
Klaus

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005
08.09.2022, 06:55 Uhr
dh0jsv

Ich bin mit dem Teil auch zufrieden, genutzt habe ich es bisher für RAMs und auch diverse Logik-IC. Das wird dir schon gefallen

--
Sven

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006
08.09.2022, 18:25 Uhr
Egon

Hallo,

also ich muss auch berichten das dieses geniale Ding mit mir Abstand den größten
Nutzen bringt. So schnell und einfach wie damit kann man gerade gut und ewig gelagerte
ICs wie unser TTL- oder CMOS-Geraffel mit nichts Anderem prüfen. Sehr lobenswert ist
auch die Versorgung mit Updates und Erweiterungen, es geht ja immer noch weiter
mit neuen Adaptern und Änderungen bzw. Ergänzungen zu vorhandenen Prüfungen.
Ich z.B. habe etliche russische CMOS-ICs als defekt vorgefunden und auch die von mir
oft gebrauchten 7475 waren nicht immer brauchbar obwohl nie benuzt. Deshalb habe ich
mir jetzt auch angewöhnt das sobald ich irgend einen IC benötige auch gleich alle anderen
dieser Sorte schnell mal einstecke und aussortiere was kaputt ist. Einen Unterschied
bezüglich Hersteller konnte ich nicht ausmachen, gerade für einige russische gibt es eigene
Testprofile.
Grüße Egon

Dieser Beitrag wurde am 08.09.2022 um 20:47 Uhr von Egon editiert.

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007
08.09.2022, 19:18 Uhr
KK

Zitat:

Egon schrieb
auch die von mir oft gerauchten 7475 waren nicht immer brauchbar obwohl nie benuzt.

Is auch ziemlich harter Stoff in der Pfeife.

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008
08.09.2022, 20:33 Uhr
Klaus

Hallo,

danke auch für Euer Feedback Sven und Egon.

Inzwischen ist das Teil fast komplett (SD-Karten-Modul fehlt noch) und ich konnte schon die ersten Tests machen.
Das Ding ist einfach geil ;-)

Neben dem Standard Sockel habe ich auch mal zwei der Adapter für 30 pol. SIMM/SIP und 74121/22/23/... aufgebaut.

Die ersten Tests mit paar DRAMs, Logic- und Treiber ICs waren erfolgreich.
Einen defekten DS8282 habe ich schon aussortiert.

Ein 1MB SIM Modul und auch ein 74123 wurde mit den entsprechenden Adaptern ohne Murren geprüft.

Nun musste auch mal ein exotischer russischer IC zeigen, ob es läuft.
Da lag so ein Einzelstück in meiner Schachtel. Ein KM132RU5, der dem Intel I2147 entspricht (4kx1 SRAM).
Auch dieser Test ist problemlos durchgelaufen und der IC wurde für gut befunden.

Ich finde den RCT genial (wie einige andere hier auch).
Nun kann ich in aller Ruhe die "Spreu vom Weizen" trennen.

In meinen Schachteln sind eben auch diverse ausgelötetet ICs, wo ich nicht den Zustand kenne.
Da is dieser RCT einfach eine großartige Hilfe.

Wirklich ein super Projekt und wie Egon schon schrieb, wird wohl noch an Erweiterungen und Updates gearbeitet.
Beide Daumen hoch und Dank an Stephan vom 8bit-Museum.de für sein cooles Projekt.

Viele Grüße,
Klaus

Dieser Beitrag wurde am 08.09.2022 um 21:10 Uhr von Klaus editiert.

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009
08.09.2022, 20:51 Uhr
Rolly2

Hallo Klaus,
da bleibt aber immer noch das Problem bei ausgelöteten ICs. Da gibt es uU. ein Kontaktproblem in der Fassung. Ist bei mir schon mehrfach augetreten. Zinnreste usw. IC im Tester "SCHLECHT", aber nach mehrmaligen Tests "GUT". Ungedreht wäre es natürlich schlechter.

VG, Andreas

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010
08.09.2022, 21:09 Uhr
Klaus

Hallo Andreas,

klar stimmt ... das Problem kann natürlich auftreten.
Also die Pins der ausgelöteten ICs immer ordentlich mit reichlich Flussmittel reinigen und dann mit Isopropanol abwischen.

Bei den bisher getesteten ICs (waren aber nur paar einzelne) gab es noch keine Kontaktprobleme.

Hast Du auch so einen RCT?

Viele Grüße,
Klaus

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011
08.09.2022, 21:48 Uhr
RenéB

Hallo,
ich habe mir den RCT auch geholt. Die Eindrücke der anderen kann ich bestätigen.
Beim KR573RU1 hatte ich Probleme. Das lag aber auch an den unterschiedlichen Anschlussbelegungen der verschiedenen Typen (K, KM, KI und KR). Ein paar Mails an Stephan und mein Russischwörterbuch haben geholfen. Stephan hat sehr schnell geantwortet.

Gruß René

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012
09.09.2022, 13:05 Uhr
Rüdiger
Administrator

Gibt es inzwischen eine effektive Strategie, DIL-ICs zu prüfen, ohne sie auszulöten?
Ich habe z.B. gerade diese Karte hier, wo ein IC defekt ist:

Schaltplan ist zwar vorhanden, hilft aber nicht bei der Eingrenzung des Fehlerbildes.
Bislang mühe ich mich da im Blindflug mit Pulser und Pegelprüfer ab...
--
Kernel panic: Out of swap space.

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013
09.09.2022, 15:42 Uhr
RenéB

Interessante Frage.
Spontan fällt mir da ein, baue einen Adapter bei dem du eine Art Patchfeld hast - wenn notwendig.
Dem RTC kannst du über eine SD-Card eine Datei mit der PIN-Definition übergeben. Damit kannst du einen Testlauf machen (so habe ich den KR537RU1 getestet). Die angesprochene Adresse und der gelesene Wert wird Dir ausgegeben, wenn es einen Fehler gab. Viel anders dürfte der SIMM-Tester auch nicht funktionieren.

Macht das Sinn oder ist es zu umständlich?

Gruß René

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014
09.09.2022, 16:50 Uhr
Egon

Hallo,

...eine effektive Strategie, DIL-ICs zu prüfen, ohne sie auszulöten

nennt sich Logikanalysator oder Mehrkanal-Oszi oder Eigenbau Logiktester mit
Start-Stop und Fang-FF Schaltung.

Grüße Egon

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015
10.09.2022, 17:03 Uhr
Rüdiger
Administrator

Zitat:

Egon schrieb
Hallo,

...eine effektive Strategie, DIL-ICs zu prüfen, ohne sie auszulöten

nennt sich Logikanalysator oder Mehrkanal-Oszi oder Eigenbau Logiktester mit
Start-Stop und Fang-FF Schaltung.

Grüße Egon

Erklär mal bitte.

Logikanalysator und Mehrkanaloszi habe ich fürs erste nicht, sind aber sicher beschaffbar.
Die Gatter auf der Leiterplatte sind irgendwie verschaltet. Die, wo die Eingänge auf den Bussteckern liegen, kann ich mit externen Signalen stimulieren. Soweit gut.
Bei Gattern, deren Eingänge von anderen Gattern gespeist werden, weil ich nicht recht, wie ich die stimulieren soll. Ein NAND mit 8 Eingängen kriege ich mangels Oktopus-Tentakel nicht mit dem Pulser umgeschaltet. Das korrekte Verhalten von Flipflops fällt mir auch schwer mit dem Prüfstift zu kontrollieren.

Schick wäre eine Lösung, die ich per Testkralle direkt auf einen IC klemmen kann, die in Pulsermanier die Eingänge zwangsumschaltet und das logische Sollverhalten des IC kennt.
--
Kernel panic: Out of swap space.

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016
10.09.2022, 19:19 Uhr
Egon

Hallo,

naja, da gibt es nicht viel zu erklären.

Ein Oszi mit wie früher üblich zwei Kanälen reicht für den Anfang aus, wenn er
sich extern triggern lässt ist das noch besser. Damit kann man gut Fehler suchen.

Die bekannten Logikanalysatoren von Saleae bzw. die Nachbauten sind schon
sehr universell einsetzbar. Ich habe dafür extra ein kleines Asus-Notebook
das für nichts anderes verwendet wird. Ich habe an mir vertrauten Schaltungen
z.B. vom G-2001.500 Zähler geübt bis mir die Bedienung und Auswertung verständlich
war.

Diese beiden Methoden erfordern aber das die Schaltung "durchläuft" und nicht bei
Fehler stoppt.

Die Variante mit dem Eigenbau-Logiktester beruht auf einer Taktquelle die sich
durch Impuls starten und stoppen lässt. Ein Fang FF wird von dem fehlerhaften Signal
bzw. z.B. ein Gatter kurz davor so getriggert das es die Taktquelle taktgenau zum
Fehlerzeitpunkt stoppt. Der gesamte zu testende Block verharrt somit im Fehlerzustand
und jedes Einzelteil im Block kann nun einzeln beurteilt werden. Es ist dazu nat.
notwendig die Schaltung in sinnvolle Blöcke aufzutrennen also z.B. nur Zähler oder
Schieberegister u.s.w..

Mit so einem Logiktester der noch viele andere Baugruppen wie etliche AND, NAND, OR
und NOR Gatter enthielt die sich variabel verschalten ließen sowie Zähler und Register
wurden Fehler am ESER gesucht und gefunden. Das ganze "Brett" hatte die Größe einer
A4 Seite, unzählige Zeibina-Leisten für die Verbindung nach außen und intern. Es ging
aber dabei auch um extrem komplexe Schaltungen wie z.B. OR-Schaltungen mit
bis zu 30 oder mehr Eingängen die so stückweise "entwirrt" wurden.
Für privat kann man sowas nat. drastisch verkleinern.

Was auch viele vergessen ist die Trennung des fehlerhaften Signals vom Rest der
Schaltung denn oft ist nicht ein Ausgang defekt sondern der folgende Eingang von z.B.
einem Gatter.

Deine Platine (wenn es um diese mit dem Fehler geht) sieht ja noch harmlos aus.
Alles normales TTL-Zeug, das müsste sich ja evtl. sogar rein statisch messen lassen
ohne den großen Messpark aufzufahren.

Grüße Egon

Dieser Beitrag wurde am 10.09.2022 um 19:24 Uhr von Egon editiert.

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