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26.05.2016, 17:31 Uhr
rm2
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Hallo an alle,
nach dem ich den RAM-Test aus
http://www.robotrontechnik.de/html/forum/thwb/showtopic.php?threadid=13064
analysiert habe, habe ich diesen erweitert
- für K2521 mit 00C00H bis 0F7FFH-Test
- für K5120 mit 00400H bis 0F7FFH-Test
die die benachbarten Zellen beschreiben und erst dann die
eigentliche RAM-Zelle liest (die Idee habe ich irgendwann in
der rfe gelesen). Im Z80-Simulator läuft das ganze. Noch nicht
an K1520 getestet, da ich noch einen IO-Test hinzufügen will.
IO-Test für K1520-LPs
- IO-Test außer 80H bis 87H, da auf ZRE verwendet
- BiS-Anzeige (ab 0F800H) ähnlich RAM-Test
siehe: http://www.audatec.net/audatec/io-test.jpg
- dünnes ca. 30 cm langes NF-BNC-Kabel mit robotron-clip
- 3 Überwachungskanäle (BNC-Kabel, Clip an Leiterplatte) je mit 3x Gatter
74LS014 und 74LS132 zur Signal-Auswahl auf LP in Tastatur
siehe: http://www.audatec.net/audatec/tast-8.jpg
- Impulsverlängerung von xx Takten (ca. 10 µs max)
auf 5N-LP (012-6910) für ZRE-PIO A (4,7 k an 5P) damit Signal
in ZRE-PIO A Bit 5 bis 7 eingelesen werden kann
- IN A,(C) mit C von 000H bis 7FH und 88H bis 0FFH durchlaufen
- im 2. Test wird zusätzlich B von 00H bis 0FFH durchlaufen
- OUT (C),A ; NOP ; IN A,(085H) wird nach jedem Ablauf/Auswertung
ein Karten-RESET erzeugt um Fehlprogrammierung SIO, PIO, CTC zu verhindern
Habe ich in meinen Überlegungen irgend etwas nicht bedacht?
mfg ralph
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http://www.ycdt.net/mc80.3x . http://www.ycdtot.com/p8000
http://www.k1520.com/robotron http://www.audatec.net/audatec
http://www.ycdt.de/kkw-stendal |
